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 ATOS電磁閥的故障原因分析
    ATOS電磁閥在市面上的發(fā)展快速，但也存在著(zhù)一些問(wèn)題。低溫閥門(mén)產(chǎn)生泄漏的原因主要有兩種情況，一是內漏；二是外漏。

    1．ATOS電磁閥的內漏原因分析
    低溫閥門(mén)產(chǎn)生內漏的主要原因是密封副在低溫狀態(tài)下產(chǎn)生變形所致。當介質(zhì)溫度下降到使材料產(chǎn)生相變時(shí)造成體積變化，使原本研磨精度很高的密封面產(chǎn)生翹曲變形而造成低溫密封不良。我們曾對DN250閥門(mén)進(jìn)行低溫試驗，介質(zhì)為液氮（-196℃）蝶板材料為ATOS電磁閥發(fā)現密封面翹曲變形量達0.12mm左右，這是造成內漏的主要原因。

    2．低溫ATOS電磁閥的外漏原因分析

    是由于閥門(mén)與管路采用法蘭連接方式時(shí)，由于連接墊料、連接螺栓、以及連接件在低溫下材料之間收縮不同步產(chǎn)生松弛而導至泄漏。因此我們把閥體與管路的連接方式由法蘭連接改為焊接結構，避免了低溫泄漏。第二是由于是閥桿與填料處的泄漏。一般多數閥門(mén)的填料采用F4，因為它的自滑性能好、摩擦系數?。▽︿摰哪Σ料禂礷=0.05～0.1），又具有*的化學(xué)穩定性，因此得到廣泛應用。

但F4也有不足之處，一是冷流傾向大；二是線(xiàn)膨脹系數大，在低溫下產(chǎn)生冷縮導致滲漏，造成閥桿處大量結冰，至使閥門(mén)開(kāi)啟失靈。為此研制的低溫蝶閥采用自縮密封結構即利用F4膨脹系數大的特點(diǎn)，通過(guò)予留的間隙達到常溫、低溫都可以密封的目的。